熱膨脹分析儀 SD-DIL 402 Expedis Supreme 集成了熱膨脹測量領(lǐng)域技術(shù)，為寬廣應(yīng)用領(lǐng)域內(nèi)的專業(yè)級的應(yīng)用而設(shè)計(jì)。DIL Expedis 系列的所有型號均基于 NanoEye 測量系統(tǒng)，在測量范圍與精度兩方面達(dá)到了新的高度。

產(chǎn)品型號：SD-DIL 402 Expedis

更新時間：2024-11-17

廠商性質(zhì)：代理商

訪問量：1254

服務(wù)熱線

4006981718

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

分析儀器

模塊式多組份分析儀系列紫外分析儀分析儀微量水分析儀系列原位式激光分析儀系列熱導(dǎo)分析儀系列氧分析儀系列紅外線分析系列

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產(chǎn)品介紹

熱膨脹儀 SD-DIL 402 Expedis Supreme 基本功能

軟化點(diǎn)檢測
軟件控制的力的調(diào)整（包括：線性力，恒定力，斜變力，步階力）
調(diào)制力
密度測量
用于溫度校正和檢測熱效應(yīng)的c-DTA® 功能
速率控制燒結(jié) RCS
曲線識別，通過數(shù)據(jù)庫對比識別未知的ΔL/L0曲線
密度測量，能夠測量樣品密度的連續(xù)變化，可應(yīng)用于固體、液體、熔體、粘稠樣品（如涂料），以及用于計(jì)算各向異性材料的體膨脹。

熱膨脹儀 SD-DIL 402 Expedis Supreme 技術(shù)參數(shù)

溫度范圍: -180 ... 2000°C（不同爐體）

升溫速率: 0 ... 100°C/min（不同爐體）

測量氣氛: 動態(tài)或靜態(tài)；氧化、還原、惰性、真空

樣品形態(tài): 固體、液體、粉末

樣品載荷: 10mN ... 3N，可變，可調(diào)制（選配）

選配擴(kuò)展功能: c-DTA®、譜圖檢索、速率控制燒結(jié)

量程: ±25000μm

測量分辨率: 0.1nm

測試模式: 單樣品/雙樣品，樣品長度自動檢測

Multitouch技術(shù) : 標(biāo)配

Nanoeye位移傳感及載荷控制技術(shù): 標(biāo)配