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當(dāng)前位置：首頁(yè)產(chǎn)品中心暖通環(huán)保風(fēng)速儀KLA探針式臺(tái)階儀P-7

KLA探針式臺(tái)階儀P-7
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

KLA探針式臺(tái)階儀P-7：P-7支持從幾納米到一毫米的臺(tái)階高度測(cè)量，適用于生產(chǎn)和研發(fā)環(huán)境。該系統(tǒng)可以對(duì)臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行2D和3D測(cè)量，其掃描可達(dá)150mm而無(wú)需圖像拼接。

產(chǎn)品型號(hào)：

更新時(shí)間：2024-11-20

廠商性質(zhì)：代理商

訪問(wèn)量：338

服務(wù)熱線

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產(chǎn)品介紹

KLA探針式臺(tái)階儀P-7產(chǎn)品描述

P-7支持從幾納米到一毫米的臺(tái)階高度測(cè)量，適用于生產(chǎn)和研發(fā)環(huán)境。該系統(tǒng)可以對(duì)臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行2D和3D測(cè)量，其掃描可達(dá)150mm而無(wú)需圖像拼接。


P-7建立在P-17臺(tái)式探針輪廓分析系統(tǒng)的成功基礎(chǔ)之上。 它保持了P-17技術(shù)的測(cè)量性能，并作為臺(tái)式探針輪廓儀平臺(tái)提供了很好的性價(jià)比。 P-7可以對(duì)臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行2D和3D測(cè)量，其掃描可達(dá)150mm而無(wú)需圖像拼接。



KLA探針式臺(tái)階儀P-7



KLA探針式臺(tái)階儀P-7KLA探針式臺(tái)階儀P-7


KLA探針式臺(tái)階儀P-7主要功能

  •       臺(tái)階高度：幾納米至1000μm

  •       微力恒力控制：0.03至50mg

  •       樣品全直徑掃描，無(wú)需圖像拼接

  •       視頻：500萬(wàn)像素高分辨率彩色攝像機(jī)

  •       圓弧校正：消除由于探針的弧形運(yùn)動(dòng)引起的誤差

  •       軟件：簡(jiǎn)單易用的軟件界面

  •       生產(chǎn)能力：通過(guò)測(cè)序，模式識(shí)別和SECS / GEM實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)化


主要應(yīng)用

  •       臺(tái)階高度：2D和3D臺(tái)階高度

  •       紋理：2D和3D粗糙度和波紋度

  •       形狀：2D和3D翹曲和形狀

  •       應(yīng)力：2D和3D薄膜應(yīng)力

  •       缺陷復(fù)檢：2D和3D缺陷表面形貌


工業(yè)應(yīng)用

  •       大學(xué)、研究實(shí)驗(yàn)室和研究所

  •       半導(dǎo)體和化合物半導(dǎo)體

  •       LED：發(fā)光二極管

  •       太陽(yáng)能

  •       MEMS：微機(jī)電系統(tǒng)

  •       數(shù)據(jù)存儲(chǔ)

  •       汽車

  •       醫(yī)療設(shè)備


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